北京品智创思精密仪器有限公司(以下简称品智创思)是中国精密测量优选品牌，始终专注于精密影像测量领域的影像分析及测量软件的设计与研发。品智创思公司从事表面科学、分析仪器、计量检测设备及实验室仪器的设计、开发和制造及销售于一体的系统集成商；致力于为工业制造和科研领域用户提供显微分析，图像分析，缺陷识别和检验, 无损探查, 品质管理, 计量，过程控制等专业检测设备，依托强有力的技术资源及完善专业的售后服务与维修体系，向用户提供专业成熟细致的服务及全面地解决方案。
公司致力于提高工业产品的质量品质！ 迄今为止，品智创思已为3000余家用户提供过的产品检测设备，用户遍布机械、电子、医疗、轨道交通、汽车、航空、航天、兵工、研究所、计量站、*等行业，为用户提供*的仪器和完善的解决方案，为用户工作提供强有力的技术支持。
产品名称：pzcs投影测量仪
产品品牌：evm-g系列
产品简介：本系列是一款高精度影像测量仪，结合传统光学与影像技术并配备功能完备的2.5d测量软件。可将以往用肉眼在传统显微镜下观察到的影像传输到电脑中作各种量测，并将测量结果存入电脑中以便日后存档或发送电子邮件。其操作简单、性价比高、精确度高、测量方便、功能齐全、稳定可靠。适用于产品检测、工程开发、品质管理。在机械加工、精密电子、模具制造、塑料橡胶、五金零件等行业都有广泛使用。
产品参数：
u变焦镜筒：采用光学变焦物镜，光学放大倍率0.7x~4.5x，视频总放大倍率40x~400x连续可调，物方视场：10.6-1.6mm，按客户要求选配不同倍率物镜。
u摄像机：配备低照度sony机芯1/3′彩色ccd摄像机，图像表面纹理清晰，轮廓层次分明，保证拥有高品质的测量画面。可以升级选配1/2′cmos130万像素摄像机。
u底座：仪器底座采用高精度天然花岗石，稳定性高，硬度高，不易变形。
u光栅尺：仪器平台带有高精度光栅尺（x,y,z三轴），解析度为0.001mm。z轴通过二次聚焦可实现对沟槽、盲孔的深度进行测量。
u光源：采用长寿命led环形冷光源（表面光及底光），使工件表面照明均匀，边缘清晰，亮度可调。
u导轨：双层工作平台设计，配备高精度滚动导轨，精度高，移动平稳轻松。
u丝杆：x,y轴工作台均使用无牙光杆摩擦传动，避免了丝杆传动的间隙，灵敏度大大提高，亦可切换快速移动，提高工作效率。
工
作
台
仪器型号
evm-1510g
evm-2010g
evm-2515g
evm-3020g
evm-4030g
金属台尺寸(mm)
354×228
404×228
450×280
500×330
606×466
玻璃台尺寸(mm)
210×160
260×160
306×196
350×280
450×350
运动行程(mm)
150×100
200×100
250×150
300×200
400×300
仪器重量(kg)
100
110
120
140
240
外型尺寸l*w*h
756×540×860
670×660×950
720×950×1020
pzcs影像测量仪测量软件简介：
绘图功能：可绘制点、线、圆、弧、样条曲线、垂直线、平行线等，并将图形输入到autocad中，实现逆向工程得到1:1的工程图。
自动测绘：可自动测绘如：圆、椭圆、直线、弧等图形。具有自动寻边、自动捕捉、自动成图、自动去毛边等功能，减少了人为误差。
测量标注：可测量工件表面的任意几何尺寸，不同高度的角度、宽度、直径、半径、圆心距等尺寸，并可在实时影像中标注尺寸。
spc统计分析软件：提供了一系列的管制图及多种类型的图表表示方法,使品管工作更方便，大大提升了品质管理的效率。
报表功能：用户可轻易地将测量结果输出至word、excel中去，自动生成检测报告，超差数值自动改变颜色，特别适合批量检测。
鸟瞰功能：可察看工件的整体图形及每个尺寸对应的编号，直观的反应出当前的绘图位置，并可任意移动、缩放工件图。
实时对比：可把标准的dxf工程图调入测量软件中与工件对比，从而快速检测出工程图和实际工件的差距，适合检测比较复杂的工件。
拍照功能：可将当前影像及所标注尺寸同时以jpeg或bmp格式拍照存档，并可调入到测量软件中与实际工件做对比。
光学玻璃：光学玻璃为*检验通过之标准件，可检验x、y轴向的垂直度，设定比例尺，使测量数据与实际相符合。
客户坐标：测量时无需摆正工件或夹具定位，用户可根据自己的需要设置客户坐标（工件坐标），方便、省时提高了工作效率。
精密影像测绘仪仪器特点：
经济型影像式精密测绘仪vms系列结合传统光学与数字科技，具有强大的软件功能，可将以往用肉眼在传统显微镜下所观察到的影像将其数字化，并将其储存入计算机中作各式量测、绘图再可将所得之资料储存于计算机中，以便日后存盘或电子邮件的发送。该仪器适用于以二座标测量为目的一切应用领域如：品质检测、工程开发、绘图等用途。在机械、模具、刀具、塑胶、电子、仪表等行业广泛使用。
变焦镜筒：采用光学变焦物镜，光学放大倍率0.7x～4.5x，视频总放大倍率：40x～400x，可按客户要求选配不同倍率物镜。
摄像机：配备低照度sony机芯1/3”彩色ccd摄像机，图像表面纹理清晰，轮廓层次分明，保证拥有高品质的测量画面。
底座：仪器底座采用高精度天然花岗石，稳定性高，硬度高，不易变形。
光栅尺：仪器平台带有高精密光栅尺（x、y、z三轴）,解析度为0.001mm。z轴通过二次聚焦可实现对沟槽、盲孔的深度进行测量。
光源：采用长寿命led环形冷光源（表面光及底光），使工件表面照明均匀，边缘清晰，亮度可调。
导轨：双层工作平台设计，配备高精度滚动导轨，精度高、移动平稳轻松。
丝杆：x、y轴工作台均使用无牙光杆磨擦传动，避免了丝杆传动的背隙，灵敏度大大提高，亦可切换快速移动提高工作效率。
pzcs投影测量仪的光学成像误差分析
任何精密仪器都会有误差，尽量减小误差，是我们需要做的。是近年来基于计算机视觉检测技术发展起来的一种高效率的新型精密测量仪器，广泛应用于机械制造、电子、汽车和航天航空等工业中。它可以用来进行零部件的尺寸、形状及其相互位置的在线检测外，还可应用于划线、定中心孔、光刻、集成线路板对准等。由于它的通用性强、测量范围大、精度高、性能好、实时性强、能与柔性制造系统相连接，所以应用相当广泛。影像测量是将被测对象的图像当作检测和传递信息的测量方法，其目的是从图像中提取有用的信号，而基于图像分析、识别来进行测量。图像是指对物体的发光以及反射光的视觉印象。因为计算机只能处理数字信息，所以图像并不能直接由计算机进行处理，一幅图像在用计算机进行处理之前必须先转化为数字形式，成为数字图像。因此，一个典型的图像测量系统主要由以下几个部分组成:光源、机台、ccd摄像机、图像采集卡、运动控制系统等，通过各个部分的组合来完成各种不同环境高精密影像检测任务。在利用ccd摄像机进行实时影像测量时，摄像机采集图像时所产生的误差已经成为测量系统中的主要误差，它直接制约、影响着系统的测量精度。因此必须对摄像机所产生的误差进行分析与检校，以便对系统的精度进行评价。
误差分析
　摄像机所产生的误差主要由它的光学成像镜头， ccd器件本身的成像质量、以及图像采集装置(含图像采集卡等)共同产生，一般分为光学误差、机械误差、电学误差等。其中电学误差有ccd器件所固有;机械误差则产生于测量仪制造和装配过程中，通过提高制造装配质量可以有效地减小该项误差。光学误差主要存在于成像光路和器件所带来的失真或畸变。由于摄像机的制造和工艺等原因，如入射光线在通过各个透镜时的折射误差和ccd点阵位置误差等，光学系统存在着非线性的几何失真，使得目标像点与理论像点之间存在多种类型的几何畸变。
1)径向畸变:径向畸变主要是由于ccd镜头形状存在的缺陷引起的，是关于摄像机镜头的主光轴对称。
2)偏心畸变:偏心畸变主要是由光学系统光心与几何中心不*造成的，即各透镜的光轴中心不能严格共线。
3)薄棱镜畸变:薄棱镜畸变是由于镜头设计、制造缺陷和加工安装的误差造成的，这类畸变相当于在光学系统中附加了一个薄棱镜，不仅会引起径向偏差，而且引起切向偏差。
影像仪（二次元）常用镜头
影像仪（二次元）常用镜头根据镜头的性能和外形区分，目前主要有四种类型的镜头，主要有自动变焦镜头、p型、e型、l型和等类型，分别叙述如下：
1.自动变焦镜头
（1）为自动定位镜头本身瞳焦已经调节好，需要检验从大倍率到小倍率的清晰度，是否*、是否清晰。
（2）检验同轴度，即大倍率到小倍率取像在同一位置，不能偏移或偏移太大，均视为不良品，必需重新更换镜头。
（3）光学放大倍率为0.7—4.5x。
（4）清晰度根据校正块、实际对象成像反映来进行判读。
2.p型镜头
（1）自动定位镜头，本身瞳焦已经调节好，需要检验从大倍率到小倍率的清晰度，是否*、是否清晰。
（2）检验同轴度，即大倍率到小倍率取像在同一位置，不能偏移或偏移太大，均视为不良品，必需重新更换镜头。
（3）光学放大倍率为0.7—4.5x，即0.7倍到4.5倍之间共九种倍率。
（4）清晰度根据校正块、实际对象成像反映来进行判断。
3.e型镜头
（1）此镜头为普通工业镜头，需要手动调节瞳焦，在机台安装好以后，手动调节使用大倍率和小倍率时，图像同样的清晰，如果不能调节清晰度视为不良品，如果调节后镜头有晃动等不稳定因素存在，也视为不良品。
（2）检验同轴度，即大倍率到小倍率取像在同一位置，不能偏移或偏移太大，均视为不良品，必需重新更换镜头。
（3）光学放大倍率为0.7—4.5x。
（4）清晰度根据校正块、实际对象成像反映来进行判读。
4.l型镜头
（1）此镜头为普通工业镜头，需要手动调节瞳焦，在机台安装好以后，手动调节使大倍率和小倍率时，图像同样的清晰，如果不能调节清晰度视为不良品，如果调节后镜头有晃动等不稳定因素存在，也视为不良品。
（2）检验同轴度，即大倍率到小倍率取像在同一位置，不能偏移或偏移太大，均视为不良品，必需重新更换镜头。
（3）光学放大倍率为0.7—4.5x。
（4）清晰度根据校正块、实际对象成像反映来进行判读。