在Leica EM TXP之前，针对目标区域进行定点切割，研磨或抛光等通常是一项耗时耗力，很困难的工作，因为目标区域极易丢失或者由于目标尺寸太小而难以处理。使用Leica EM TXP，此类样品都可被轻易处理完成。
另外，借助其多功能的特点，Leica EM TXP也是一款可为离子束研磨技术和超薄切片技术服务的*效的前制样工具。
与观察体系合为一体
看清细节
为微尺度制样而生
在显微镜下观察整个样品处理过程和目标区城
将样品固定在样品悬臂上，在样品处理过程中，通过体视显微镜可对样品进行实时观察，观察角度0°至60°可调，或者调至-30°，则可通过目镜标尺进行距离测量。Leica EM TXP还带有明亮的环形LED光源照明，以便获得更佳的视觉观察效果。
徕卡精研一体机
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https://www.chem17.com/st412007/product_32851745.html